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光學測量儀器
圖片
名稱
參數(shù)
品牌
清單
測量結(jié)構(gòu)：D/8 ,包含鏡面反射光（SCI）
測量指標：CIE-Lab,ΔE*ab,光譜曲線
照明光源：LED(全波段均衡LED光源)
測量口徑：8mm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.1(每間隔5s測量白板30次)
測量結(jié)構(gòu)：D/8 ,包含鏡面反射光（SCI）
測量口徑：8mm
波長間隔：10nm
波長范圍：400-700nm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.1(每間隔5s測量白板30次)
測量口徑：8mm
波長間隔：10nm
波長范圍：400-700nm
測量穩(wěn)定性：ΔE≤0.05(每間隔5s測量白板30次)
測量口徑：約直徑8mm
測量條件：CIE10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍：L*：1-100
重復(fù)性：標準偏差△E*ab,0.1以內(nèi)
測量條件 CIE 10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍 L*：1-100
重復(fù)性 標準偏差△E*ab,0.08以內(nèi)
測量條件：CIE 10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍：L*：1-100
重復(fù)性：標準偏差△E*ab,0.08以內(nèi)
測量條件：CIE 10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍：L*：1-100
重復(fù)性：標準偏差△E*ab,0.08以內(nèi)
測量條件：CIE 10˚標準觀察者，CIE D65光源
測量范圍：L*：1-100
重復(fù)性：標準偏差△E*ab,0.08以內(nèi)
觀察光源：A、C、D50、D65
顯示內(nèi)容：樣品色度值（L*a*b，L*C*h），色差值，合格判定，顏色偏向，平均值，生成檢測報告，光譜圖/數(shù)據(jù)
顏色空間：CIE-L*a*b,L*C*h,反射率
觀察光源：A、C、D50、D65
顯示內(nèi)容：樣品色度值（L*a*b，L*C*h），色差值，合格判定，顏色偏向，平均值，生成檢測報告，光譜圖，顯示測量區(qū)域
共計：40個產(chǎn)品　首頁1234尾頁

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